溫度沖擊試驗(yàn)箱產(chǎn)品選購(gòu)參考標(biāo)準(zhǔn)

溫度沖擊試驗(yàn)箱產(chǎn)品選購(gòu)參考標(biāo)準(zhǔn)如下：

GB/T2423.1《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)A：低溫》

GB/T2423.2《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)B：高溫》

GB/T10592-2008《高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件》

GJB150.3《軍用設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)方法高溫試驗(yàn)》

標(biāo)準(zhǔn)中關(guān)于試驗(yàn)測(cè)試、試驗(yàn)準(zhǔn)備工作、試驗(yàn)方法及試驗(yàn)報(bào)告都有詳細(xì)標(biāo)注。